1短程有序結構(gòu)變化(K狀态)的影響(xiang)K型熱電偶在250℃—600℃溫度(dù)範圍🧑🏽‍🤝‍🧑🏻内使用時，由(yóu)于其顯微結構發(fā)生變化，形成短😘程(cheng)有🚶序結構，因此将(jiang)影響熱電勢值而(ér)産生誤差，這就是(shi)所謂的K 狀态。它是(shi)Ni—Cr合金*的晶格變化(huà)，當Cr含量在5—30%範圍内(nèi)存在着原子晶格(ge)的有序無序轉變(biàn)。由此而引起的誤(wù)差，因Cr含量及溫度(dù)的不同而㊙️變化。将(jiāng)K型熱電偶從300℃加熱(re) 至🤞800℃，每50℃取一點，測量(liang)該點電勢。在450℃時偏(pian)差大可達4℃，在350—600℃範圍(wéi)内，均爲正👣偏差。由(yóu)于K狀态的存在，使(shǐ)K型熱電偶在升溫(wēn)或🐆降溫檢定結果(guo)不🚶‍♀️一緻，故在廉 金(jin)屬熱電偶檢定規(gui)程中明文❗規定檢(jiǎn)定順序：由低溫向(xiang)高溫逐點升溫檢(jian)定。而且在400℃檢定點(dian)，不僅傳熱效果不(bu)佳，難以達到熱平(píng)衡，而且，又恰好處(chù)于K狀态誤差大範(fàn)圍。因此 ，對該點判(pan)定合格與否時應(yīng)很慎🐇重。Ni—Cr合金短✏️程(chéng)有序結構變化的(de)現🌂象，不僅👨‍❤️‍👨存在于(yu)K型，而且，在E型熱電(diàn)偶正極中也有此(cǐ)現💋象。但是，作爲變(biàn)化量E型熱電偶僅(jin)爲K型的2/3。總 之，K狀态(tai)與溫度、時間有關(guān)，當溫度分✔️布或熱(re)電偶🎯位置變化時(shi)，其㊙️偏差也會發生(sheng)很大變化。故難以(yǐ)對🛀🏻偏差大小作出(chū)準确評價。